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日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5

更新日期：2024-05-11

訪問量：1518

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：

日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3
使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。
除了亮度之外，光譜測量也是可能的。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，可用于所有應(yīng)用中的研究。

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產(chǎn)品介紹

日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3

化學(xué)發(fā)光分析儀

我們還生產(chǎn)滿足用戶和實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)需求的設(shè)備。

CLA-FS5

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。
除了亮度之外，光譜測量也是可能的。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，可用于所有應(yīng)用中的研究。

CLA-ID5

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。
只能測量亮度。當(dāng)不需要光譜測量時(shí)推薦使用。

CLA-IMG4

影像量測

使用超靈敏CCD相機(jī)的設(shè)備。可以測量微弱發(fā)光的圖像，并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它還可以同時(shí)測量多個(gè)樣品。

CLA-SP3

定做產(chǎn)品

結(jié)合了CCD相機(jī)和衍射光柵的瞬時(shí)光度光譜測量設(shè)備。可以在短時(shí)間內(nèi)（0.1秒）測量高分辨率光譜。盡管需要一定量的光發(fā)射，但是也可以積分測量時(shí)間并測量光譜中隨時(shí)間的變化。

化學(xué)發(fā)光分析儀

我們還生產(chǎn)滿足用戶和實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)需求的設(shè)備。

CLA-FS5

CLA-ID5

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。
只能測量亮度。當(dāng)不需要光譜測量時(shí)推薦使用。

CLA-IMG4

影像量測

CLA-SP3

定做產(chǎn)品

化學(xué)發(fā)光分析儀

我們還生產(chǎn)滿足用戶和實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)需求的設(shè)備。

CLA-FS5

CLA-ID5

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。
只能測量亮度。當(dāng)不需要光譜測量時(shí)推薦使用。

CLA-IMG4

影像量測

CLA-SP3

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